专利名称：一种荧光量子产率测试仪及其测试方法专利类型：发明专利发明人：张伟,邹贤劭
申请号：CN201910032496.3申请日：20190114公开号：CN109781681A公开日：20190521
摘要：本发明公开了一种荧光量子产率测试仪，包括：激光光源系统、光强光斑调节系统、积分球系统和光学收集系统；所述激光光源系统包括：激光器固定架和激光器；所述激光器固定在激光器固定架上；所述光强光斑调节系统包括：可调光学中性滤光片、聚焦透镜、调节杆和导轨；所述可调光学中性滤光片位于激光光源系统的激光器的正下方，所述聚焦透镜和调节杆连接，所述调节杆调节聚焦透镜在导轨上移动；本荧光量子产率测试仪不仅适用于检测高量子产率材料的量子产率而且适用于检测部分低量子产率材料的量子产率。
申请人：广州大学
地址：510006 广东省广州市番禺区大学城外环西路230号
国籍：CN
代理机构：广州市华学知识产权代理有限公司
代理人：雷芬芬
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